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波長色散型X射線熒光光譜儀的X光管
發(fā)布時間:2024-04-08

X光管是波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)最核心的部件之一,影響光管性能的主要參數(shù)有功率、電壓、電流、鈹窗膜厚度、陽極靶材、陰極燈絲等,其性能很大程度影響了儀器的最終性能。在高壓下,電子從燈絲表面逸出,并在電場作用下打到陽極靶材上,激發(fā)出初級X射線。在這個過程中,電子動能...

  • 發(fā)布時間:2025-03-15

    國產(chǎn)固定道WDXRF與進口WDXRF在硅基材料分析中的對比與應用推薦波長色散X射線熒光光譜儀(WavelengthDispersiveX-rayFluorescence,WDXRF)是一種廣泛應用于材料分析的技術,尤其在硅基材料(如半導體、玻璃、硅片等)中具有重要作用。進口WDXRF設備雖然在性能上表現(xiàn)優(yōu)異,但成本較高,而國產(chǎn)固定道WDXRF近年來發(fā)展迅速,在許多應用場景中已能滿足實際需求。本文通過對比國產(chǎn)固定道WDXRF與進口WDXRF,在硅基材料分析中的性能表現(xiàn),并結合實...

  • 發(fā)布時間:2025-03-13

    X射線熒光光譜儀原理及主要技術指標對比X射線熒光光譜儀(簡稱:XRF)X熒光光譜儀主要由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。其原理就是:X射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光),并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)...

  • 發(fā)布時間:2025-02-12

    RoHS2.0檢測儀是根據(jù)歐盟RoHS指令(即《關于限制在電子電氣設備中使用某些有害成分的指令》2.0版本)要求而設計的,用于檢測電子電氣產(chǎn)品中的有害物質含量,確保產(chǎn)品符合環(huán)保標準。這些有害物質主要包括鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚等。RoHS2.0檢測儀的工作原理主要基于X射線熒光光譜法(XRF)、氣相色譜-質譜聯(lián)用法(GC-MS)等分析方法。X射線熒光光譜法(XRF):利用高能X射線激發(fā)樣品中的元素,使其產(chǎn)生特征熒光。通過測量這些熒光的強度,可以計算出樣品中各元...

  • 發(fā)布時間:2025-01-14

    精度保障1、檢測技術ROHS2.0十項檢測儀采用X射線光譜儀檢測金屬元素,通過分析元素對X射線的吸收或發(fā)射特征來確定元素種類和含量。這種技術對于低濃度的金屬元素檢測具有較高的靈敏度。在檢測微量的鉛元素時,能夠準確區(qū)分出其在樣品中的含量波動。2、精密的校準系統(tǒng)ROHS2.0十項檢測儀配備精密的校準系統(tǒng)。通過使用標準物質進行定期校準,確保儀器的檢測結果準確無誤。在檢測汞含量時,使用含已知濃度汞的標準溶液,使儀器能夠準確識別并量化樣品中的汞含量。3、優(yōu)化的檢測流程從樣品的采集、制備...

  • 發(fā)布時間:2025-01-08

    重金屬成分分析儀是一種用于檢測樣品中重金屬元素含量的精密儀器,廣泛應用于環(huán)境監(jiān)測、食品安全、工業(yè)生產(chǎn)等領域。操作步驟:1、樣品準備:根據(jù)檢測需求,將樣品進行適當?shù)那疤幚恚缦?、稀釋等,以確保樣品中的重金屬元素處于可檢測狀態(tài)。2、儀器校準:使用標準溶液進行校準,以確保儀器的準確性和可靠性。校準是確保檢測結果準確性的關鍵步驟,應定期進行。3、樣品測試:將處理好的樣品注入分析儀,按照儀器操作手冊進行測試。測試過程中應注意操作規(guī)范,避免誤差的產(chǎn)生。4、數(shù)據(jù)處理:根據(jù)儀器輸出的數(shù)據(jù),...

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